私たちエルフィノート・テクノロジー株式会社は、半導体計測技術をマザーテクノロジーとして、各種半導体システム分野、情報サービス分野を視野に入れたビジネスを行なっております。弊社はWLBI （ウェーハ･レベル･バーンイン：高温下でウェーハ状態のまま一括で電圧や信号を与えながら、バーンインスクリーニングを行う）技術の黎明期より半導体計測技術に携わり、常に基礎技術開発投資を行いつつ、ベンチャースピリットをもって企業活動を行なってまいりました。
各種半導体計測機器及び、テストパターン発生器、画像処理等の高速処理エンジン、一括微細コンタクトできる低価格ブローピング技術、音声技術等においても技術の蓄積があります。

ベーシックテスタとは

ベーシックテスタ・コンセプトとは弊社が長年に渡り開発して来たIP技術を組合わせて構築した基本モジュール群をカスタマイズまたは基本モジュール群を組み合わせて構成した、顧客の要望を叶える「最小単位のテスター」です。

システム計測

主要技術
・メモリテスト装置開発技術 ・DC テスト装置開発技術 ・バーンインテスト装置開発技術 ・各種テスト装置開発技術 ・各種装置周辺機器制御技術 ・各種パフォーマンスボード開発技術 ・組込制御ソフトウェア開発技術 ・装置制御ソフトウェア開発技術

実績
・ALPG（アルゴリズミック･パターン･ジェネレータ）

開発
・ピンエレクトロニクス開発 ・ウェーハレベルバーンイン汎用メモリテスト装置開発 ・1T-SRAM 実装試験装置開発 ・フラッシュメモリテスト装置開発 ・各種テスト機能評価 ・システム制御・周辺機器・制御ソフトウェア開発 ・テストプログラム開発 ・その他

情報ソフトウェア

実績
・W-CDMA 基地局シミュレータ開発 ・携帯端末開発向けデータ収集ソフトウェア開発 ・eラーニングシステム開発 ・受講管理機能モジュール開発 ・Webテスト機能モジュール開発 ・スキル診断機能モジュール開発 ・ドキュメント管理システム開発 ・その他